在日本航空公司运营的国内检查站1号航站楼安装HI-SCAN 6040CTiX、iLane和UV-C套件 伦敦 -- (BUSINESS WIRE) -- (美国商业资讯)--全球威胁检测和安全检查技术领导者史密斯探测公司今天宣布，公司已向东京国际机场提供12套HI-SCAN 6040 CTiX随身行李筛查系统、iLane智能自动托盘返回系统和UV-C托盘消毒系统。 史密斯探测公司的产品将支持日本航空公司在东京国际机场国内航站楼安检点的“日航智慧安检”方案，并利用尖端技术实现更先进的安检。该项目将于2022年4月推出，计划于2022年8月完工。 史密斯探测公司的HI-SCAN 6040CTiX是一款计算机断层扫描（CT）X射线扫描仪，可以生成高分辨率的三维立体图像，以更快地评估行李，降低误报率。它不必从手提行李中取出电子产品和液体进行安检，加快乘客筛查速度，减少接触点。全自动托盘返回系统iLane提供了高吞吐量和高效率，简化了筛选流程，消除了乘客排长队瓶颈。UV-C是一种紫外线托盘消毒套件，无缝集成到iLane托盘返回系统中，可消除高达99.9%的微生物，包括新冠病毒，有助于保护乘客和员工免受传染性疾病的接触传播。 日本航空公司机场部执行官前田 |
